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        納米智檢洞見未來!日聯(lián)科技AX9600榮獲EM創(chuàng)新獎
        發(fā)布時間:2026-04-04 09:00:00

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        3月26日,2026第二十一屆EM創(chuàng)新獎頒獎典禮于上海舉辦。日聯(lián)科技AX9600憑借先進的“0.8μm級缺陷全捕捉、納米級成像、全方位AI智檢”能力斬獲EM創(chuàng)新獎。

         

        日聯(lián)開管X-RAY

        半導體智檢裝備AX9600

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        采用日聯(lián)自研160kV開放式微聚焦X射線源,輕松滿足HBM、GPU等AI算力芯片和先進封裝的檢測需求。

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        ?2000X超級放大   ?高清晰實時成像

        ?360°全方位檢測   ?AI缺陷自動測算

         

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        作為電子制造行業(yè)極具含金量的榮譽,EM創(chuàng)新獎圍繞創(chuàng)新性、產(chǎn)能提升、工藝先進性等七大維度,評選出為推動電子制造業(yè)發(fā)展和創(chuàng)新做出卓越貢獻的供應商。

         

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        此次獲獎,標志著 AX9600 的硬核實力得到行業(yè)與市場的高度認可,更體現(xiàn)了行業(yè)客戶對日聯(lián)科技的充分信賴與堅定選擇。

        了解更多日聯(lián)科技X-ray檢測裝備信息可以撥打全國服務熱線:400-880-1456 或訪問日聯(lián)科技官網(wǎng):m.t1442.cn

        日聯(lián)科技.jpg





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